X射線同無線電波、可見光、紫外線等一樣，本質(zhì)上都屬于電磁波，只是彼此之間占據(jù)不同的波長范圍而已。X射線的波長較短，大約在10-8～10-10cm之間。X射線分析儀器上通常使用的X射線源是X射線管，這是一種裝有陰陽極的真空封閉管，在管子兩極間加上高電壓，陰極就會發(fā)射出高速電子流撞擊金屬陽極靶，從而產(chǎn)生X射線。
 

　　X射線衍射儀XRD是利用X射線在晶體物質(zhì)中的衍射效應進行物質(zhì)結構分析的技術。每一種結晶物質(zhì)，都有其特定的晶體結構，包括點陣類型、晶面間距等參數(shù)，用具有足夠能量的X射線照射試樣，試樣中的物質(zhì)受激發(fā)，會產(chǎn)生二次熒光X射線(標識X射線)，晶體的晶面反射遵循布拉格定律。通過測定衍射角位置(峰位)可以進行化合物的定性分析，測定譜線的積分強度(峰強度)可以進行定量分析，而測定譜線強度隨角度的變化關系可進行晶粒的大小和形狀的檢測。
 

　　X射線衍射儀XRD可為客戶解決的問題：
 

　　(1)當材料由多種結晶成分組成，需區(qū)分各成分所占比例，可使用XRD物相鑒定功能，分析各結晶相的比例。
 

　　(2)很多材料的性能由結晶程度決定，可使用XRD結晶度分析，確定材料的結晶程度。
 

　　(3)新材料開發(fā)需要充分了解材料的晶格參數(shù)，使用XRD可快捷測試出點陣參數(shù)，為新材料開發(fā)應用提供性能驗證指標。
 

　　(4)產(chǎn)品在使用過程中出現(xiàn)斷裂、變形等失效現(xiàn)象，可能涉及微觀應力方面影響，使用XRD可以快捷測定微觀應力。
 

　　(5)納米材料由于顆粒細小,易形成團粒,采用通常的粒度分析儀往往會給出錯誤的數(shù)據(jù)。采用X射線衍射線線寬法(謝樂法)可以測定納米粒子的平均粒徑。